• A metán és salétromsavgőz között végbemenő nitráló reakció kinetikai vizsgálata, 1958
• Analysis of the products of nitration of methane in the gas phase, 1960
• Kinetics of the gas phase nitration of methane by nitric acid, 1960
• Determination of ionic mobilities in aqueous hydrochloric acid solutions ..., 1962
• Theory of the influence of silver halide on the electromotive force of galvanic concentration cells with silver halide second class electrodes, 1962
• Félvezető eszközök konstrukciója és technológiája, 1965
• Félvezető eszközök konstrukciója és technológiája, 1969
• Basic problems, applications and trends, 1975
• Szilárdtestfizika 1., 1976
• MIS rendszerek problémái, 1977
• Szilárdtestfizika 2., 1977
• Bevezetés az alkalmazott szilárdtestfizikába, 1979
• Szilárdtestfizikai feladatok és számítások, 1982
• Szilárd testek vizsgálata elektronokkal, ionokkal és röntgensugárzással, 1984
• Szilárdtestfizika 2., 1984
• Bevezetés az alkalmazott szilárdtestfizikába, 1985
• Szilárdtestek felületfizikája, 1987
• Fizika, 1987-1989
• Elektronika, 1989
• Fizika 1-2. példatár, 1989
• Műszaki fizika III : az anyagtudomány alapjai, 1991
• Fizika I-II., 1992
• Műszaki fizika III. : az anyagtudomány alapjai, 1993
• Fizika I-II., 1994
• Fizika mérnököknek I-II., 1994
• Diffúzió és implantáció szilárdtestekben, 1997-
• Műszaki fizika III. : az anyagtudomány alapjai, 1998-
• Fizika mérnököknek I-II., 2002
• Megújuló energiák szerepe az energiaellátásban, 2005
• A külső határfelületek meghatározó szerepe a szekunder ionizációban,
• A reaktív SIMS módszer elméleti és gyakorlati alkalmazásai,
• Az ionporlasztás folyamatának modellezése számítógépes szimulációs módszerrel,
• Bandwidth limiting factors of the acoustic transducers of TeOb2 sacousto-optic devices,
• Depth profile analysis of doping elements implanted and diffused in metals and semiconductors by SIMS method,
• Determination of Na content of MOS oxide layers by means of combined SIMS and BT investigation,
• Kis energiájú atomütközési folyamatok rugalmatlan energiaveszteségének számítása,
• Komplex mérőrendszer MIS rendszerek vizsgálatára,
• Local and distribution analysis of metals and alloys,
• MOS szerkezetek finomstruktúra vizsgálata szekunder-ionemissziós spektroszkópiával,
• MOS szigetelőrétegek strukturális és összetételvizsgálata, különös tekintettel a határfelület szerkezetére és a határfelületi feldúsulásokra,
• Noncontact optical measuring methods of silicon wafer deformation,
• On microelectronical applicatons of simplified calculations, based on the contemporary thermodynamic calculation of interface properties (CICIP) method,
• Posztgraduális (C - és doktorandusz) képzés tapasztalatai a BME Fizikai Intézetében,
• Synthetic approaches to some nouvel Tephrosia furanoflavones,
• Szilárdtestek szabad- és határfelületi összetételének számítása,
• Szilárdtest-felületek elmélete, cluster-modellek,
• Szilárdtest felületfizikai kutatások, 1973-77,
• The possibilities of SIMS investigations of insulators,
• Tört felületek vizsgálatának problémái in situ elektronspektroszkópiával, különös tekintettel az intergranuális törésre,
• Új módszerek szilárdtestek felületi összetételének számítására,
• ,
• ,

ADT    |    MTA    |    MTMT    |    Névpont    |    PIM    |    Amicus: 26463    |